王工团队制定标准化测试流程，分阶段执行 72 小时持续校验，确保每个环节监测到位、数据完整，避免人为疏漏。
第一阶段：降温与稳定（10.10 8:00-12:00），试验箱以 5℃/ 小时速率从 25℃降至 - 37℃，每小时记录 1 次芯片温度、电压、电流参数，观察密码机是否正常启动（如指示灯亮、信号波形稳定），此阶段未出现异常启动故障，芯片初始工作正常率 100%。
第二阶段：恒温持续测试（10.10 12:00-10.13 12:00），试验箱维持 - 37℃恒温，数据采集仪每分钟采集 1 次参数，每 12 小时人工检查 1 次示波器波形与设备外观（如是否结霜、线缆是否松动），期间模拟 3 次市电中断（每次 5 分钟），验证备用电源切换时芯片工作连续性。
第三阶段：升温与恢复（10.13 12:00-14:00），以 5℃/ 小时速率从 - 37℃升至 25℃，每 30 分钟记录 1 次芯片参数，观察温度回升过程中芯片性能是否恢复（如晶体管放大倍数、存储错误率是否回归常态），避免低温损伤导致不可逆性能衰减。
测试执行过程中，团队严格遵守 “不干预原则”：仅在预设时间点检查设备状态，不调整任何参数；异常数据（如某时刻错误率突升）实时标记但不中断测试，待校验结束后集中分析，确保测试数据反映真实低温性能。
五、芯片工作状态的实时记录与数据采集
李工团队负责实时记录芯片工作状态，通过多维度参数采集，全面捕捉 72 小时内芯片性能变化，为稳定性分析提供第一手数据。
运算核心芯片记录：重点监测 3AG1 晶体管的放大倍数（通过电压放大倍数计算）、矩阵运算速度，每小时抽样 100 次运算数据。结果显示：-37℃恒温阶段，晶体管放大倍数稳定在 70-75（常态 80，下降 6.25%-12.5%），运算速度保持 0.68-0.7μs / 次（达标≥0.7μs / 次），无运算中断现象。
存储控制芯片记录：监测磁芯存储器的读写错误率、控制芯片工作电压（5V±0.05V），每分钟统计 1 次错误次数。72 小时内，读写错误率稳定在 0.0005%-0.0008%（达标≤0.001%），控制芯片电压波动≤0.03V，无数据丢失或地址冲突，存储功能稳定。
接口环境芯片记录：监测通信接口芯片的响应延迟、信号错误率，通过示波器观察波形是否畸变。结果显示：响应延迟稳定在 0.08-0.09μs（达标≤0.1μs），信号错误率 0.005%（达标≤0.01%），低温下波形无明显畸变，接口通信正常。
特殊工况记录：3 次市电中断（10.11 00:00、10.12 06:00、10.13 00:00）期间，备用电源切换时间≤0.1 秒，切换过程中芯片工作未中断，数据交互错误率未上升，验证了低温下电源切换的芯片稳定性。
六、历史补充与证据：芯片状态原始记录档案
1965 年 10 月的《“73 式” 低温芯片状态原始记录档案》（档案号：DW-1965-002），现存于军事通信技术档案馆，包含参数记录表、示波器波形图、异常标记单，共 148 页，由李工、孙工共同记录，是数据采集的直接证据。
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档案中 “运算芯片参数记录表”（10.11 00:00-01:00）显示：晶体管 T1 放大倍数 72、T2 放大倍数 73、T3 放大倍数 71，矩阵运算速度 0.69μs / 次，电压 5.02V，电流 1.2A，数据均在正常范围内，记录表每小时由李工、赵工双人核对签名，确保准确性。
存储芯片错误率统计表（10.10 12:00-10.13 12:00）按分钟记录：72 小时共 4320 分钟，错误次数累计 3 次（0.0007%），分别发生在 10.11 15:23、10.12 08:45、10.13 09:10，每次错误后 1 分钟内自动恢复，无连续错误，附错误时刻磁芯存储器电压波形图（无明显波动）。
示波器波形图页（10.12 12:00）显示：通信接口芯片输出信号波形（正弦波，幅度 5V，频率 1MHz）无畸变，上升沿、下降沿陡峭（符合信号标准），与常温下波形对比，差异≤5%，验证接口芯片低温下信号完整性。
异常标记单仅记录 1 次轻微异常：10.11 20:30，接口芯片响应延迟升至 0.095μs（仍≤0.1μs），5 分钟后恢复至 0.08μs，分析原因是试验箱温度短暂波动（-37.5℃至 - 36.5℃），温度稳定后参数回归正常，无影响整体稳定性。
七、稳定性数据分析与性能评估
10 月 13 日 14:00-16:00，孙工团队对采集的 4320 组数据进行系统分析，从整体稳定性、分类芯片性能、异常数据归因三个维度，评估芯片低温下的可靠性。
整体稳定性分析：72 小时内，芯片工作正常率 99.8%（仅 1 次轻微异常，无故障停机），核心参数（运算速度、错误率、延迟）均达标，且波动幅度小（如运算速度标准差 0.005μs），说明 “73 式” 芯片在 - 37℃环境下具备长期稳定运行能力，满足边防 72 小时无人值守需求。
分类芯片性能评估：运算核心芯片表现最优，放大倍数衰减≤12.5%，运算速度无明显下降；存储控制芯片次之，读写错误率极低（0.0007%），电压稳定性好；接口环境芯片虽出现 1 次延迟波动，但仍在达标范围内，三类芯片性能均符合实战要求。